光学平整度尺寸检测

检测项目

1.平整度检测：表面平整度，局部平整度，面形偏差，基准面一致性，区域起伏。

2.长度尺寸检测：外形长度，外形宽度，对边尺寸，有效口径尺寸，功能面长度。

3.厚度尺寸检测：总厚度，边缘厚度，中心厚度，厚度均匀性，分区厚度差。

4.直径与半径检测：外径，内径，圆角半径，边缘半径，过渡半径。

5.轮廓形貌检测：表面轮廓度，截面轮廓偏差，边缘轮廓，微观起伏，形貌均匀性。

6.平行度与垂直度检测：表面平行度，端面平行度，侧面垂直度，基准面垂直关系，装配面角度关系。

7.位置尺寸检测：孔位尺寸，孔中心距，槽位尺寸，边距，定位特征位置偏差。

8.边缘质量检测：边缘崩边尺寸，倒角尺寸，毛刺高度，边缘缺口，边缘完整性。

9.表面缺陷检测：划痕尺寸，凹坑尺寸，压痕范围，附着颗粒，局部损伤分布。

10.角度参数检测：夹角尺寸，楔角，切边角度，斜面角度，棱边角度偏差。

11.对称性检测：中心对称度，轴线对称度，结构分布对称性，边缘对称性，功能区对称关系。

12.装配适配尺寸检测：安装孔尺寸，配合面尺寸，定位台阶尺寸，嵌合间隙，装配基准尺寸。

检测范围

光学平板、光学窗口片、滤光片、棱镜、透镜基片、反射镜基片、分光片、盖板玻璃、显示面板玻璃、触控玻璃、蓝宝石窗口片、晶圆基片、陶瓷基板、石英片、硅片、光学治具、精密平面基准件、微结构光学片、红外窗口片、保护镜片

检测设备

1.光学平整度测量仪：用于测量平面表面的平整度和面形偏差，适合高精度表面几何评价。

2.影像尺寸测量仪：用于获取样品外形尺寸、孔位尺寸及边缘特征，适合非接触式尺寸检测。

3.白光干涉仪：用于分析表面微观形貌、局部起伏和高度差，具备高分辨表面测量能力。

4.轮廓测量仪：用于测量截面轮廓、台阶高度和边缘过渡形貌，可进行线性轮廓分析。

5.激光测厚仪：用于测量样品厚度、厚度均匀性及分区厚度差，适用于薄片类样品检测。

6.工具显微镜：用于观察细小尺寸特征、边缘缺陷和局部结构，适合精细几何要素检测。

7.三坐标测量仪：用于测量复杂结构的空间尺寸、位置关系和几何偏差，适合多特征综合评价。

8.平行光管测量装置：用于辅助检测光学元件装调状态下的几何关系，可测试角度与位置一致性。

9.表面缺陷检测仪：用于识别表面划痕、凹坑、颗粒和局部损伤，支持缺陷尺寸与分布分析。

10.精密角度测量仪：用于测量楔角、夹角和斜面角度等参数，适合光学元件角度几何检测。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.